久久国产精品久久国产精品,超碰caoporen国产,成人综合久久精品色婷婷,欧美亚洲另类丝袜自拍动漫,欧美AⅤ无码片一区二区三区视频社区在线

產品詳情

  • 產品名稱：功能齊全 重慶內藤銷售 SF-3 光譜干涉式晶圓測厚儀 OTSUKA大塚電子

  • 產品型號：SF-3
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產品文檔：
你添加了1件商品 查看購物車
簡單介紹：
配備原裝分析引擎 功能齊全 重慶內藤銷售 SF-3 光譜干涉式晶圓測厚儀 OTSUKA大塚電子 采用獨特的厚度測量*佳分析算法 功能齊全 重慶內藤銷售 SF-3 光譜干涉式晶圓測厚儀 OTSUKA大塚電子 厚度分布可以自動映射
詳情介紹：
特點
  • 厚度可以通過光學方法非接觸式/非破壞式地測量
  • 頻譜分析后進行調節(jié)
  • 拋光監(jiān)控可以實時高速進行
  • 測量中間層，如保護膜，窗口材料是可能的
  • 多層厚度分析
  • 配備原裝分析引擎（正在申請**）
  • 采用獨特的厚度測量*佳分析算法？（**）
  • 厚度分布可以自動映射

 （詳情請咨詢TEL:18375760285 QQ;1280713150 白先生）

測量項目
  • 薄膜厚度分析（5層）

 

應用程序使用
  • 硅元件厚度的評估
  • 研磨評估硅和化合物半導體
  • 1.3毫米新一代450毫米晶圓
  • 775微米300毫米晶圓
  • TSV晶圓（測量通孔上的Si膜和Si層膜）
  • 也適用于硅晶片以外的材料廣泛適用（SiO 2，樹脂薄膜）
產品規(guī)格
模型 SF-3
厚度測量范圍 0.1μm至10μm，15μm至1000μm，10μm至775μm *，50μm至1600μm*
重復性 0.01％以下
測量時間 *快200μs（5 kHz）
測量光源 半導體光源
測量直徑 *小φ6μm
WD 取決于10毫米或更多的任意距離
維 123（W）×224（D）×128（H）mm（不包括突起）
設備配置

SF-3設備配置



* 請輸入您的公司全稱，方便我們和您聯(lián)系
* 請輸入您的聯(lián)系人,方便我們和您聯(lián)系
* 請輸入您的電話，方便客服及時解答您的問題
* 請輸入您的留言內容，方便客服及時解答您的問題
 

渝公網安備 50019002501360號