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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:功能齊全 重慶內(nèi)藤銷售 FE-5000 光譜橢偏儀 OTSUKA大塚電子

  • 產(chǎn)品型號:FE-5000
  • 產(chǎn)品廠商:OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格:0
  • 折扣價格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
除了能夠進行高精度薄膜分析的分光橢圓偏振光譜儀之外,還可以通過安裝測量角度的自 功能齊全 重慶內(nèi)藤銷售 FE-5000 光譜橢偏儀 OTSUKA大塚電子 動可變機構(gòu)來支持各種薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)分析儀方法之外,通過提供相位差板的自動 功能齊全 重慶內(nèi)藤銷售 FE-5000 光譜橢偏儀 OTSUKA大塚電子 回縮機構(gòu)來提高測量精度。
詳情介紹:
除了能夠進行高精度薄膜分析的分光橢圓偏振光譜儀之外,還可以通過安裝測量角度的自動可變機構(gòu)來支持各種薄膜。除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)分析儀方法之外,通過提供相位差板的自動回縮機構(gòu)來提高測量精度。

(詳情請咨詢TEL:18375760285 QQ;1280713150 白先生)

特點
  • 橢圓參數(shù)測量可以在紫外和可見光(250-800nm)的波長范圍內(nèi)進行
  • 納米級多層薄膜的厚度分析
  • Ellipso光譜可以通過400多ch的多通道光譜快速測量
  • 對應(yīng)于通過可變反射角度測量的薄膜的詳細分析
  • 通過創(chuàng)建光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫并添加配方注冊功能,可以增強操作的便利性
  • 可以通過層膜配合分析通過光學(xué)常數(shù)測量來控制膜厚度/膜質(zhì)量

 

測量項目
  • 橢圓參數(shù)(tanψ,cosΔ)測量
  • 光學(xué)常數(shù)(n:折射率,k:消光系數(shù))分析
  • 薄膜厚度分析

 

應(yīng)用程序使用
  • 半導(dǎo)體晶片
    的柵氧化膜,氮化物膜
    的SiO 2,硅X ? ?,氮化硅,的SiON,氮化硅X,AL 2 ? 3由SiN X ? ?,多晶Si,硒化鋅,BPSG,氮化鈦
    的抗蝕劑(波長色散)的光學(xué)常數(shù)
  • 化合物半導(dǎo)體
    Al x Ga (1-x) As多層膜,非晶硅
  •  用于等離子顯示器的FPD
    定向膜
    ITO,MgO等
  • 各種新材料
    DLC(Diamond Like Carbon),超導(dǎo)薄膜,磁頭薄膜等
  • 光學(xué)薄膜
    TiO 2,SiO 2,多層膜,減反射膜,反射膜
  • 光刻領(lǐng)域
    g線(436納米),h線(405納米),i線(365納米)中,n在各波長,諸如KrF受(248nm的)中,k評價
產(chǎn)品規(guī)格
模型 FE-5000S FE-5000
測量樣本 反射測量樣本
樣本大小 100 x 100毫米 200 x 200毫米
測量方法 旋轉(zhuǎn)分析儀方法* 1
測量的薄膜厚度范圍(nd) 0.1納米 -
事件(反射)角度范圍 45到90° 45到90°
事件(反射)角度驅(qū)動系統(tǒng) 自動簽名欄的驅(qū)動方法
入射點直徑* 2 關(guān)于φ2.0 關(guān)于φ1.2sup * 3
tanψ測量精度 ±0.01以下
cosΔ測量精度 ±0.01以下
膜厚的可重復(fù)性 0.01%以下* 4
測量波長范圍* 5 300至800納米 250至800納米
光譜探測器 多色儀(PDA,CCD)
測量光源 高穩(wěn)定性氙燈* 6
舞臺傳動系統(tǒng) 手冊 手動/自動
加載器兼容 不當(dāng) 是的
尺寸,重量 650(W)×400(D)×560(H)mm 
約50kg
1300(W)×900(D)×1750(H)mm 
約350kg * 7
軟件
分析 *小二乘薄膜分析(折射率模型函數(shù),柯西色散方程模型方程,如NK-柯西色散方程模型分析)
理論方程分析(本體表面NK分析,角度依賴性同時分析)

* 1可以驅(qū)動偏光片,可以去除對死區(qū)有效的延遲片。
* 2取決于短軸·角度。
* 3小點對應(yīng)(選項)
* 4使用VLSI標(biāo)準(zhǔn)SiO2膜(100nm)時的值。
* 5可以在此波長范圍內(nèi)進行選擇。
* 6光源根據(jù)測量波長而變化。
* 7選擇自動舞臺時的值。

原則

包括s波和p波的線性偏振光入射到樣本上,并測量反射光的橢圓偏振光。s波和在相位p波的變化和獨立地振幅比tanψ和p波和S波的反射率的相位差的兩個偏振取決于獲得樣品Δ的轉(zhuǎn)換參數(shù)。

光譜橢偏儀原理
 

tanψ,consΔ被稱為橢球參數(shù),橢圓光譜法測量這兩個參數(shù)的波長相關(guān)譜。

光學(xué)系統(tǒng)圖

FE-5000光學(xué)系統(tǒng)繪圖

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